Rasterelektronenmikroskopielabor (SEM)
Labor für “Automated Mineralogy”
Haus T – Raum T 030
Tel: +49 30 838 70823
Ansprechpartner: Dr. J. C. Vrijmoed
Email: j.c.vrijmoed@fu-berlin.de
Das Gerät Zeiss Sigma 300VP Field-Emission-Rasterelektronenmikroskop ist ausgestattet mit:
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Zeiss Gemini column
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2 Bruker Quantax Xflash 60mm2 SDD EDS Detektoren für quantitative Elementanalyse ab Kohlenstoff
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1 Variable Pressure Secondary Electron (VPSE) detector
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1 High Definition Back Scatter Electron Detector (HDBSE)
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1 Inlens Detektor
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2 Zeiss ATLAS Correlative microscopy system (1 online/1 offline Workstation)
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2 Mineralogic Mining automatisiertes Mineralogiesystem (1 online/1 offline Workstation)
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2 Reservoir Mining für die automatisierte Porenraumanalyse (1 online/1 offline Workstation)
Einsatzgebiete
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Hochortsauflösende automatisierte Oberflächenmorphologie (Zeiss ATLAS)
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Oberflächenmorphologie unbedampfter, unpolierter Proben (Low Vac)
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Automatisierte quantitative Mineralogie- und Porösitätsaufnahmen von Dünnschliffen
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Automatisierte Suche nach spezifischen Mineralphasen (Sulfide, Zirkone, etc.)
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Korngröße-, Morphologie- und Mineralogieanalysen
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Kathodolumineszenzanalysen (mit VPSE Detektor)
Das Gerät ZEISS Axio Imager M2m für automatisierte Durchlicht-/Auflicht-Dünnschliffaufnahmen ist ausgestattet mit:
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4 Objektiven 2.5x, 5x, 10x, 20x (spezialisierte Auflichtobjektive)
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Polarisiertes Durchlicht-/ motorisierte Auflicht Reflektoren
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Motorisierter Tisch
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Hochauflösende Digitalkamera
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Zen Blue Suoftware
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Leitungsstarker Rechner für die Bearbeitung von GB-großen Bilddateien
Einsatzgebiete
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Schnelle Dünschliffaufnahmen für die Korrelierung mit REM Bilder und EDS Daten
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Schnelle suche nach Opakphasen wie Sulfiden, Oxiden, etc.